圖片僅供參考
8V182512IDGGREP
+物料清單IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
-
製造商德州儀器
-
製造商部分 #8V182512IDGGREP
-
有存貨5208
365 天品質保證
7*24 小時服務保證
90-日售後保障
正品保證
規格
| 屬性 | 價值 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 2.7V ~ 3.6V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-TFSOP (0.240, 6.10mm Width) |
